市場競爭激烈的今天,很多工廠為了減少SIM卡座連接器的成本,導(dǎo)致市面上的質(zhì)量魚龍混雜。在許多情況下,這些趨勢的綜合結(jié)果使連接器的銅合金的工作特性更接近其性能極限。隨著電子產(chǎn)品的飛速發(fā)展,對電子元器件、電子連接器、卡座連接器等的性能要求也越來越高。甚至連接器的壽命也不容馬虎。

最初的接觸力是連接器的設(shè)計和材料特性的一個重要因素。由于接觸件的彈性變形轉(zhuǎn)化為塑性變形,應(yīng)力釋放會導(dǎo)致接觸力的減小。如果接觸力低于某個臨界水平,接觸元素可以出現(xiàn)功能衰竭。

因此,作為時間和溫度函數(shù)的應(yīng)力釋放的預(yù)測是保證連接器可靠性的關(guān)鍵因素。下面是對壓力釋放測試的詳細介紹,以預(yù)測連接器的壽命。

應(yīng)力釋放數(shù)據(jù)設(shè)計師預(yù)測電子連接器的使用壽命是有效的工具之一,并可以根據(jù)現(xiàn)有的數(shù)據(jù)聯(lián)系材料的選擇決策。這些數(shù)據(jù)現(xiàn)在廣泛應(yīng)用于計算機、通信和汽車電子行業(yè)。

大多數(shù)連接器設(shè)計人員使用應(yīng)力釋放的數(shù)據(jù)主要是材料的選擇根據(jù)應(yīng)用程序需求減少接觸面積。然而,許多設(shè)計者也在尋找合適的測試方法來更準(zhǔn)確地預(yù)測連接器的壽命特性。這大大減少了測試所需的樣本數(shù)量以及與測試大量樣本相關(guān)的相關(guān)成本。

目前,相關(guān)數(shù)據(jù)產(chǎn)品的生命周期是非常微弱的,尤其是在計算機領(lǐng)域。不僅如此,它還為縮短產(chǎn)品開發(fā)周期和有效期提供了更多有用的數(shù)據(jù)。